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큐로홀딩스의 PROBE CARD는 WAFER상에 구성된 개별 Chip의 전기적 특성을 테스트하기 위한 반도체 전공정 검사장치입니다.
Wafer내 Chip을 Test하기위해 사용되는 Contact 솔루션 제품으로 PCB위에 Test Pin를 고정시켜 제작되며, TEST하고자 하는 CHIP의 PAD에 접촉하여 Wafer내 개별 Chip의 회로상태나 특성을 검사하여 양/부 상태를 선별할 수 있도록 해주는 기능의 역할을 하고 있습니다.
메모리/비메모리 반도체 테스트의 요구조건인 Hot/Cold Test, High freqency,Low Leakage등 다양한 테스트 환경에서 안정된 성능을 자랑합니다.
 
Wafer의 Hot & Cold Test(125℃ ~ -20℃), High Speed,Low Leakage Test 가능
Memory, Flash Memory, ASIC Wafer등의 다양한 반도체 제품에 대한 Test 가능
고객 Needs에 적용 가능한 Probe Card 제작 및 신속한 납기대응 가능