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큐로홀딩스의 DTIS(Device Test Interface System)제품은
반도체 Device (Package) Test를 위한 종합 인터페이스 검사장비입니다.
테스터에서 인가된 신호는 DTIS를 통해 각 Dut상에 위치한 Device에 공급되고, Feedback 되는 신호의 분석을 통하여 Device의 양/불량을 선별해 주는 최신기술이 적용된 인터페이스 제품입니다.
메모리 반도체 Device에 대하여 Fine Pitch, High Speed, Hot & Cold Test가 가능하며,고객사의 다양한 욕구를 충족시키기 위해 Automatic / Manual Type 으로 제작이 되며, 모든 테스트 환경에서 고성능 고효율의 품질테스트가 가능합니다.
 
Impedance maching을 기반으로 한 PCB 장착
High speed , Noise 방지기능 , 안정적인 Singnal 전달
다양한 Package, Memory Module 테스트 지원가능
Tester별 Multi Parallel 확장가능
 
Advantest
Agilent
Credence
Hitachi
Megatest
Mosaid
Nextest
Schlumberger
Teradyne
Yokogawa
 
Manual Board
Module DTIS
Mother / Load Board
Normal DTIS
Universal DTIS
I/O Shared DTIS
4DR shared DTIS
DTIS Refurbishment